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扫描式探测系统

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更新时间:2021-10-26 14:59:44浏览次数:228

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产品简介

HP-S-X1扫描探测系统  完善的系统配备,为通用的测量任务提供多种选择

详细介绍

  HP-S-X1扫描探测系统
  完善的系统配备,为通用的测量任务提供多种选择。包括手动、自动测座、模块化测头、更换架、探针、加长杆等等。
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  HP-S-X3扫描探测系统
  紧凑、高精确度的三维固定式扫描测头。
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  HP-S-X5扫描探测系统
  高承载、全三维、固定式扫描测头,即使在携带超长加长杆的情况下也可保证达到极快的速度和*的精度。增加X.wlkit选项,可支持长达800mm,重量600g的测针。

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