详细介绍 μCMM纳米级光学三次元索取 μCMM 型录特性 Feature规格 Specification应用 ApplicationsFEATURESµCMM 奈米級光學三次元µCMM是台纯光学CMM机床,用于高精度测量极小的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势,仅使用一个传感器即可测量组件的尺寸,位置,形状和粗糙度。光学CMM可以提供相对于彼此的多个光学3D测量结果的高几何精度,从而可以对大型组件上的小表面细节进行测量,并可以精确地确定这些单独的测量结果相对于彼此的位置。可测量表面的范围包括所有常见的工业材料和復合材料,例如塑料,PCD,CFRP,陶瓷,铬,硅。一键式解决方案实现了简单的操作,自动化和人体工程学控制元素,例如专门设计的控制器。带有直线驱动器的空气轴承轴可实现无磨损使用以及高精度,快速的测量。直观的可用性,专为多个用户而设计可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关,包括从哑光到抛光或镜面反射的组件,该行业通常使用的所有材料和復合材料。密集的非接触式且与材料无关的测量阿里科纳(Alicona)测量系统提供了表面功能以及将坐标测量系统集成到一个系统中的功能。结果,您的质量保证将变得更具成本效益,更易于执行并更有效地交付结果。无磨损高效使用所有组件,包括运动轴,均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损运行以及高精度,快速测量。这使μCMM成为生产中使用的理想选择。SpecificationμCMM 产品规格 µCMM设备规格 量测范围 310 x 310 x 310 mm 设备尺寸 approx. 960 x 1109 x 2288 mm 设备重量 approx. 1250 kg 工作温度 +20°C to+25°C µCMM镜头规格 1500A 800A 400A 150A 80A 量测面积[mm] 2.63 x 2.63 1.32 x 1.32 0.66 x 0.66 0.26 x 0.26 0.13 x0.13 点间距离[μm] 1.53 0.76 0.44 0.18 0.09 工作距离[mm] 23.5 17.5 19 11 4.5 最小粗糙度检测[μm] 0.6 0.15 0.075 0.03 0.015 最小R角检测[μm] 10 5 3 2 1 µCMM镜头规格 1500A 800A 400A 150A 80A 量测面积[mm] 2.63 x 2.63 1.32 x 1.32 0.66 x 0.66 0.26 x 0.26 0.13 x0.13 点间距离[μm] 1.53 0.76 0.44 0.18 0.09 工作距离[mm] 23.5 17.5 19 11 4.5 最小粗糙度检测[μm] 0.6 0.15 0.075 0.03 0.015 最小R角检测[μm] 10 5 3 2 1 三维精度(ISO 10360-8) EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm|EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) µm ApplicationsμCMM 应用µCMM是同类产的纯光学微坐标测量系统。用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量的优势相结合,仅用一个传感器即可测量组件的尺寸,位置,形状和粗糙度。现在也可以光学测量大于90°的垂直表面。
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