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设备 Systems
特性 Features
应用 Applications
详细介绍
ATOS Compact Scan
精密光学三维测量系统
索取 ATOS Compact Scan 型录
轻量‧高移动性
测头轻巧方便携带
全面性检测
在扫描同时可使用
接触式探针测量
高阶扫瞄系统
移植GOM的*高阶技术
高精度·高解析度
搭载高达1200万像素
高阶CCD感应元件
蓝光技术
‧ 扫描时不受环境光源干扰
‧ 快速扫描大型工件能力
‧ 移植自ATOS Triple Scan的*高阶技术
‧ 低维护成本
‧ 高品质的测量数据
扫描与接触式探针
‧ GOM的工业立体摄影技术
‧ 捕捉细节，即使是最小的部分也有高解析度
‧ 结合整场扫描和接触是探针测量
‧ 可在扫描和手持探测操作之间即时切换
多样的扫描范围
‧ 可依精度、解析度、速度选择适合的扫瞄范围
‧ 从小型到大型工件的扫描以同一测头即可完成扫描
‧ 完整的部件分析
‧ 可量测尺寸高达数十米的大型工件
紧緻型等级
‧ 扫描不受环境影响
‧ 搭载800万或1200万像素高阶CCD感应元件
‧ 可执行複杂的测量与检测任务
‧ 新的应用领域，例如:在夹窄空间的测量、汽车内装空间...等
便携式量测系统
‧ 容易携带运送
‧ 轻量的测头
‧ 搭载便携、高效能影像处理电脑
‧ 扫瞄系统、三脚架、校正板与旋转台，可全部收纳于一个行李箱中
完整的量测系统
‧ 创新且全面的解决方案:包含测头、电脑、软体及配件
‧ 高精度的ATOS立体影像量测技术
‧ 包含量测与检测软体
‧ 完整的教育训练与技术支援
大型物件量测的解决方案
複杂特徵的解决方案
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