详细介绍 日本KETT电磁膜厚计 370系列测量方式电磁式涡流式探头型号LEP-J(Fe)LHP-J(NFe)测量对象磁性金属(铁、钢)上非磁性涂镀层非磁性金属(非铁)上的绝缘层测量范围0~2500um(99mils)0~1200um(47mils)测量精度<50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3%分辨率<100um:0.1um; >1000um:±1um存储数据约3000个预存通道电磁式和涡流式各50个,共计100个显示方式LCD数显数据输出连接电脑或打印机电源5#电池×4个消费电量80mW(不使用背光状态下)电池寿命100小时(不使用背光状态下连续使用的情况下)室温要求0~40℃外形尺寸主机:75(W)×145(D)×31(H), 340g标准配置铁基体,铝基体,标准片,V型块,主机皮套,电池×4个,使用说明书可选附件标准片,专用台架,软件,数据线,探头
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