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吉安市谱赛斯科技有限公司
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| 产地 | 进口 | 类型 | 其他X射线仪器 |
|---|---|---|---|
| 售后保修期 | 12个月 | 销售区域 | 全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外 |
| 测量范围 | 钛-铀 | 固定台尺寸 | 535 mm x 530 mm（宽×深) |
| 电动台尺寸 | 260 mm x 210 mm（宽×深) | 电动台行程 | 250 mm x 200 mm（宽×深) |
日立X射线镀层测厚仪FT110A，日本进口，拥有行业认同的测量技术及效率，快速、无损、非接触，高效率，适用范围，用于电子元器件，半导体，PCB，LED，电镀，五金，首饰饰品等多个行业表面镀层厚度的测量。可测量钛-铀的元素，型号为FT110A，同时配有手动台和自动台，闭口和开口等不同配置，满足客户不同的需求。
日立X射线镀层测厚仪FT110A
FT110A是一款XRF台式光谱仪，专为电镀行业的特定需求而设计。像日立分析仪器的其他台式光谱仪一样，FT110A使用简单，采用了的高精度X射线荧光技术，并且可以全天候运行。除此之外，FT110A还有一些特殊的特性，与常规的测厚仪器相比，它更适合大批量的镀层分析工作。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从22Ti 到92U 的固体或液体样品。
日立X射线镀层测厚仪应用范围也比较广泛，主要体现在以下几个领域：
PCB / PWB 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
电力和电子组件的电镀
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata和MAXXI系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
IC 载板
半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。
服务电子制造过程 （EMS、ECS）
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到最终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和最终产品，确保每个阶段的质量。
光伏产品
对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性，从而确保高效率。
受限材料和高可靠性筛查
与复杂的供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术，根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求，确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。
日立X射线镀层测厚仪FT110A主要特点 ：
• 元素范围Ti（22） - U（92）。
• W靶X射线管（大50 W；50 kV，1 mA）。
• 2个初级过滤器位置，可编程。
•自动对焦功能缩短对焦时间提高检测效率
• 微聚焦X射线管提高镀层测量精度
• 无标样FP法可测度层数达到5层
• 广域图像系统一键定位
• 开槽式设计针对PCB行业的测量应用
• 双准直器，可编程：0.1和0.2 mm 直径（4和8 mil）。
• 可选四准直器，可编程：0.05、0.1和0.2 mm直径以及
0.025×0.4 mm（2，4和8 mil直径以及1×16 mil）。
日立台式镀层测厚仪售后服务：
免费上门安装：是
保修期：1年
是否可延长保修期：是
保内维修承诺：快速及时
报修承诺：与客户沟通后尽快到达现场
免费仪器保养：合同客户每年1-2次
免费培训：3人次免费培训
现场技术咨询：有
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