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详细介绍
RL1新一代免缠绕插回损测试仪的设计是为了弥补光学测试设备与现代技术之间的差距，RL1采用突破性的技术，为光缆组件和配件获得快速、可靠和准确的IL & RL测量数据。
回损测试速度提升30%
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| 扇港元器件（深圳）有限公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2021-04-30 10:01:10浏览次数：805
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