详细介绍
特点
免缠绕回损测试
单多模波长包括: 850/1300/1310/1490/1550/1625nm
多模光源可按照IEC/TIA(环形通量)要求定制
单一配置实现灵活稳定测试
优异的插损稳定性
可同时运行两个不同的测试*
OPL-LOG软件
这个软件通过USB及高低温箱和探测头**控制测试参数,并实现数据采集和保存。 同时,软件可以生成插损回损的曲线图,支持数据读取设备并以Excel格式存储数据。
这一存储能力使得OPL-LOG软件特别适合*光器件高低温测试要求,而且符合标准的要求. 测试时长和间隔可以设定,即任意测试时间长度内在任意时间间隔或固定时间间隔进行测试,为提供测试效率,OPL-LOG还可以同时实施不同设置下的两种测试要求.OP-METS系统配合OP-Log软件可以根据您的应用要求定制测试方案。
* 由于OP-METS的物理配置,每个测试要分顺序实施,无法在同一时刻进行两个测试
** 软件所支持的高低温箱及探头型号请咨询我们