日本日置阻抗分析仪IM7583
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：快0.5ms
● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
基本参数
日本日置阻抗分析仪IM7583
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：快0.5ms
● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）
测量模式 LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率 1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz)
测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)
显示 彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间 快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
功能 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
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