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M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
操作视频
产品型号 | M-3手持式四探针电阻率测试仪 | ||||||
主要特点 | 1、测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成 2、手持式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准 3、宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程 4、操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示 5、多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试 | ||||||
技术参数 | 1、工作电源 208-240V，50/60Hz；电池供电：DC3.7V 2、测量范围、分辨率 电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方块电阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2 3、基本误差：±1%FSB±2LSB 4、外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H 5、净重：0.3kg | ||||||
可选配件 | 1探头 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配 碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料（详见图1）；球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层（详见图2）；探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差（详见图3）。
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2、可选配快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度
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