当前位置：武汉普赛斯仪表有限公司>>仪器仪表>>数字源表>> S系列半导体特性曲线分析仪
| 产地 | 国产 | 售后保修期 | 12个月 |
|---|---|---|---|
| 销售区域 | 全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外 | 测试范围 | 0.3mV-300V/100nA-1A |
| 测试精度 | 0.1% | 工作环境 | 25±10℃ |
半导体特性曲线分析仪之数字源表认准普赛斯仪表，国产自主研发，性价比高，测试范围更广，输出电压高达300V，支持USB存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案，及时指导客户编程，加速测试系统开发
以下是源表的典型应用领域:
纳米材料与器件
– 石墨烯
– 碳纳米管
– 纳米线
– 低功耗纳米结构
• 半导体结构
– 晶圆
– 薄膜
• 有机材料与器件
– 电子墨水
– 印刷电子技术
• 能量效率与照明
– LED/AMOLED
– 光伏/太阳电池
– 电池
• 分立器件与无源组件
– 双引线: 电阻器、二极管、齐纳二极管、LED、传感器
– 三引线: 小信号双极节型晶体管(BJT)、场效应晶体管 (FET)，等等
• 材料特性分析
–电阻率
–霍尔效应
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