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表面粗糙度仪

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更新时间:2020-08-18 16:36:55浏览次数:251

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产品简介

详细介绍

表面粗糙度仪产品介绍:MarSurf XR 20 可以提供给您所需要的一切, 您可以开始从Mahr 高级别的表面测量设备中获益。 该设备囊括了实验室和车间所有常用的, 基于标准的测量参数和轮廓。优化的结构和简易的操作设计, 使得该高效率设备更易使用。MarSurf是Mahr积累数十年表面计量学的经验, 结合未来焦点技术产生的计量设备。MarSurf XR 20 利用Mahr 聚焦未来的粗糙度评定软件。表面粗糙度仪技术特征:粗糙度评定软件特征:1.可选择 80 种测量参数 R, P 和 W 轮廓 (依照 ISO/JIS 或MOTIF (ISO 12085) 标准2.依照Ls 带通滤波标准; Ls 带通滤波可灵活开启3.监察公差及统计所有数据综合纪录在 Teach-in 模式下, 快速产生测量程序4.自动选取标准截止波长和扫瞄长度功能 ()根据Ra 或 Rz 的参数规格, 支持不同校准方法(静态和动5.可设定维护和校准周期针对客户实际应用, 具备非常大的测量范围可选择不同的配置方式6.可设置不同用户层次, 通过密码保护, 避免操作者错误操作或改动设定, 并可确保未有权限人员不能使用许多个测量结果甚至多个零件的测量结果在一个文档中处理和打印表面粗糙度仪技术数据:MarSurf XR 20. 技术数据测量原理 探针测量法1.传感器 R 测针:MFW 250Focodyn*, LS 1* 和 LS 10* 光学传感器 (*只适用于以下驱动器PGK 120 或 GD 120 CNC)驱动器 PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120,GD 120 CNC测量范围 :MFW 250 ±25 μm, ±250 μm,(up 至 ±750 μm); ±1,000 μin,±10,000 μin (可达 ±30,000 μin)2.轮廓分辨率 / 分辨率:垂直方向 ±25 μm / 0.7 nm(±1,000 μin / 0.02 μin)±250 μm / 7 nm(±10,000 μin / 0.2 μin)±2500 μm /50 nm(±100,000 μin / 2 μin)约 100,000 步距/测量范围3.水平方向:点间距依照 DIN EN ISO 3274 标准(5.6 mm 测量长度上约 11,200 点;用户可自定义, 多 240,000点)轮廓类型 D, P, W, R (轮廓可倒转)4.选配: 理论波度轮廓滤波器类型 轮廓滤波器依照 DIN EN ISO 11562标准 (数字, 相位滤波器) RC 滤波器(数字)特殊滤波器依照 DIN EN ISO 13565-1K1 标准形状 ARC 滤波器截止波长: 0.08 mm; 0.25 mm; 0.8 mm; 2.5 mm;8 mm/可手动输入(.003 / .010 / .032 / .100 / .320 in)扫瞄长度 自动; 0.56 mm; 1.75 mm;5.6 mm; 17.5 mm, 56 mm,(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 in),可调取样长度 1 至 50 (默认值: 5)特殊扫瞄长度 0.1 mm 至提供长度可调 (0.008 in 至 12 in)低通 Ls 2.5 μm / 8 μm / 25 μm(100 μin/ 320 μin / 1,000 μin)依照 DIN EN ISO 32749标准, 可自由选择和关闭测量速度 (Vt) 0.1 mm/s 和0.5 mm/s(0.004 in/s, 0.02 in/s)表面粗糙度仪参数:1.粗糙度参数:Ra, Rq, Rz (Ry 根据 JIS 符合 Rz), Rmax, RPc, Rz (JIS), Rt, Rp(Rpm 根据 ASME 符合 Rp), Rv, R3z, RSm, RS (符合S根据JIS), Rsk,Rku, Rdq, Rlq, Rdc, R HSC, RMr*, RMr*, RMr*2.核心粗糙度参数:Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Mr1, Mr2, A1, A2, VoP 3.轮数参数:Pa, Pq, Pt, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Plq, Pdc, P HSC, PPc, PMr*,PMr*, PMr*W 4.轮廓参数:Wa, Wq, Wt, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, WMr*, WMr*,WMr*Motif 参数 (ISO 12085):R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, Cpm, CR, CF, CLISO 5436 参数:Pt5436, D5.参数列:Rz-L, Rp-L, R3z-L, Rdc-L, RMr-L,Pdc-L, PMr-L6."外貌波度轮廓" 选配:WDSmMin, WDSmMax, WDSm, WDc, WDt特征曲线 轮廓材料曲率 (Abbott-Firestone 曲线)振幅密度曲线 (ADC)校准 静态和动态, 通过Ra或 Rz校准周期 是, 有监察公差显示 有 (对每一个值)用户权力 有 (可设定不同层次权限)自动功能 依照 DIN EN ISO 3274 标准, 自动选取截止波长统计 X, S, max., min., 非公差区间, 无效测量语言 英文, 法文, 德文, 其他可选软件要求 WINDOWS XPMarSurf XR 20 订货号 6268350包括计算机和标准控制单元* 材料曲线计算参照中线或 CREF价格面议或电联或关注ma-er-cu-cao-du-yi-8
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