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详细介绍
包含测量台的紧凑型设计。 - 传感器配有根据阿贝原理的同轴测量系统或相对于测高仪轴使用偏移探头。 测量具有扁平，平行或圆柱形表面的几何元素上的内部，外部，高度，深度，步距和距离尺寸。 - 自动检测孔或轴上的顶点。 - 使用记忆功能“.大”，“.小”和“.大.小”进行动态探测。 根据所选择的工具配置，整个系统提供了测量直线度，平直度和平行度或检查轴向和径向跳动的.佳解决方案。
• 控制面板
- 可防护液体和灰尘的侵害
- 1D改进的面板，易于操作且不会混淆
- 兼容2D面板，用于访问超越在1D模式下简单测量的功能
• 测量
- 适合在生产线旁测量小零件
- 高精度
- 低的可调触发力，可测量更广泛的材料
- 清晰的结果能减少因显示结果不正确理解导致错误的可能性
• 立柱
- 所需空间.小化，紧凑化测量接近生产线
• SCS 校准证书
- 免费附带的SCS校准证书节省了初始购买后的额外重新校准的成本
• 控制面板
- 可防护液体和灰尘的侵害
- 1D改进的面板，易于操作且不会混淆
- 兼容2D面板，用于访问超越在1D模式下简单测量的功能
• 测量
- 适合在生产线旁测量小零件
- 高精度
- 低的可调触发力，可测量更广泛的材料
- 清晰的结果能减少因显示结果不正确理解导致错误的可能性
• 立柱
- 所需空间.小化，紧凑化测量接近生产线
• SCS 校准证书
- 免费附带的SCS校准证书节省了初始购买后的额外重新校准的成本
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不改变探测方向的测量
无需测头常数
无需测头常数
不改变探测方向的测量
无需测头常数
无需测头常数
改变探测方向的测量
需测头常数
不考虑拐点测量
需测头常数
不考虑拐点测量
改变探测方向的测量
需测头常数
考虑拐点测量
需测头常数
考虑拐点测量
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