三丰粗糙度测量仪SV-C3200S4

三丰表面粗糙度测量仪SV-C3200S4功能
• 高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。
• X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在高精度精 准定位下，完成间距参数的评价。
• 检出器测力有4mN和0.75mN可选。轮廓测量功能
• Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增 大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。
• 专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。
(1) 装配双锥面测针，实现垂直方向(上/下)连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有 效直径。
(2) 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。
• 表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行高 级分析并即刻输出结果。
• 表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起，节省安装空间。

SV-C3200技术规格2