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TESA MICRO-HITE +M测高仪

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更新时间:2022-09-20 10:03:50浏览次数:379

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产品简介

TESA MICRO-HITE +M测高仪

详细介绍

项目

TESA MICRO-HITE +M

350

600

900

应用范围(mm)

0~520

0~770

0~1075

允许误差(um

1.8+2L/1000L m

重复性(um

平面上:≤0.5; 孔内:≤1

正面垂直度误差(um)

7

9

11

使用 IG13 测头的垂直度误差 (µm)

正面 : 5

正面 : 7

正面 : 9

侧面 : 5

侧面 : 7

侧面 : 9

分辨率(mm

0.01/0.001/0.0001

是否带气浮

二维测量带气浮可编程(自动)

 

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