冲击试验缺口投影仪

冲击试验缺口投影仪——原理

    利用*光学图像技术将被测冲击试样缺口V型U型缺口图像通过千万像素的相机及镜头，将图像采集到电脑显示器上，通过我公司测量软件SMTMeasSystem_IG自动捕捉、自动判定，精确测量摆锤冲击V、U型缺口尺寸。

冲击试验缺口投影仪——特点

测量速度款：

测量缺口只需2部就可以完成，一步：将试样放到试样台上（测量视场范围内），第二部：点击测量按钮，测量结果瞬间得出缺口角度、缺口深度、缺口底部半径、缺口底部高度；每分钟可测量80-180根试样；

采集光学系统：

采用的相机、光源、镜头，确保试样图像清晰显示，圆心镜头确保图像无畸变，确保测量精度。

测量准确：

自动捕捉，自动测量，排除一切人为因素影响，一次测量缺口角度、缺口深度、缺口底部半径、缺口底部高度。

自动判定

自动进行判定，显示误差值，判定依据可以执行GB、ISO、ASTM、企业标准或自动判断条件来对测量结果自动判定。

模块化设计

模块化设计，用户可根据自行需求设定测量误差范围。

测量技术

采用像素解析技术，精确自动捕捉缺口边缘，试样摆放无需确保试样水平，都可精确测量。

可导入图片进行二次测量，用于仲裁或具有纷争的结果查询、二次测量；