冲击试样缺口投影仪

一、产品介绍

 XT-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而开发的一种于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

二、工作原理

 XT-50冲击试样缺口投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。
根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

三、技术参数

1.投影屏直径：180mm 
2.方工作台尺寸：110×125mm 
3.圆工作台直径：90mm 
4.工作台玻璃直径：70mm 
5.纵向： ±10mm
6.横向： ±10mm 
7.升降： ±12mm（无刻度）
8.工作台转动范围：0-360°（无刻度）
9.仪器放大倍率：50X 
10.物镜放大倍率：2.5X 
11.投影物镜放大倍率：20X 
12.光源（卤钨灯）：12V 100W 
13.外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
14.重量： 约18Kg