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详细介绍
CMS2
COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。
特性：
- 使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），精确地测量多镀层的厚度
- 图形显示的交互方式，易于操作
- 适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度
- 提供全面的附件产品供您选择，可满足特定需求
应用：
- 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
- 单层或多层的镀层厚度测量
- 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
- 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量
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