一、武汉食品两箱式温度冲击试验机用途

  用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的*的一项测试箱。

二、武汉食品两箱式温度冲击试验机执行与满足标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

三、特点

冷热冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。
温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。
冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。
高温冲击或低温冲击时，zui大时间可达999H，zui大循环周期可达9999次。
系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。
试料槽*静止，可由测试孔外加负载配线。
蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,  而产生工作倦怠,集中力降低）。
可选择始动位置，高温或低温开始循环。
具有预约起动功能。
可设定循环次数及自动除霜。
可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。
有异常或故障显示及排除方法说明。
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