TopMap Micro.View+新一代光学表面轮廓仪 返回列表页

TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。亮点1.纳米级分辨率的白光干涉仪2.采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围3.配有自动“对焦仪"和“对焦跟踪器"进行自动化4.电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位5.用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式6.模块化，特定于应用程序的配置启用自动化且可投入生产线编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ 采用的“对焦仪"和“焦点追踪器"，使表面在任何情况下都保持聚焦。 采用全电动的样品定位台可实现缝合和自动化。