济南三泉中石实验仪器有限公司

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高精度薄膜厚度测厚仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号:

品       牌: 三泉中石/Sumspring

厂商性质:生产商

所  在  地:济南市

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更新时间:2019-12-12 16:39:29浏览次数:647

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产地 国产 售后保修期 12个月
销售区域 全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外
高精度薄膜厚度测厚仪CHY-5(High precision film thickness gauge CHY-5)采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量

高精度薄膜厚度测厚仪CHY-5(High precision film thickness gauge CHY-5)采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。

 

应用范围:
适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。

 

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>高精度薄膜厚度测厚仪</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

 

高精度薄膜厚度测厚仪CHY-5技术指标:
仪器型号:CHY-U
专业名称:测厚仪
测量范围:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率 :0.1um
测量速度:10 次/分(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张)    注:薄膜、纸张任选一种
进样步矩:0 ~ 1300 mm(可调)
进样速度 :0 ~ 120 mm/s(可调)
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg

 

执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

 

 

本检测仪器可用于测量0-2mm的薄膜或纸张等软质材料,采用的独立自动进样器,可随主机一起工作,便于客户测量实现测量的全自动化;配备的电脑测试软件,可在电脑上直观的显示实验结果和视图。

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