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详细介绍
快速高精度外径测量（塞规）和量块比较仪
被时间验证的技术——使用我们高放大倍数比较仪快
速而准确地测量外尺寸（塞规）系统
解决一个普遍的问题:高精度外径的快速测量
我们TrendsetterTM仪器，由一个电子柱配合一个高速zui高点探测组件构成，迅速而准确的探
测并获取圆柱工件的动态zui高点（拐点）。通过我们单头比较仪接触测量，简单而快速地完成
圆柱工件外径的测量。这个测量系统适合应用于接近公差的工件，特点是可选择标尺在
0.0025毫米开始，且全量程0.05微米的分辨率。通过设置时间延时程序可手动或自动的激
活复位电路。为提高了它的多用性，它在公制或英制方式下均可操作。
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