详细说明
美国赛普司X-50手持式光谱仪
X-50是具性价比的“经典款”手持式XRF分析仪。
X - 50的特点是采用PiN二极管技术，这是在SDD硅漂移探测器出现之前的前一代探测器。PiN技术处理的x射线比硅漂移探测器低10x - 20x。然而，对于诸如不锈钢、高温度、铜合金等基本的分类，或在土壤、矿石、粉末或重金属等方面的基础分析，PiN技术的效果是令人满意的。
X - 50不能测量Mg,Al或Si，在某些材料中可以测量P和S在1%的水平。
X - 50配有与其他X型号相同的高性能X光管(电压40 kV)、集成摄像头、视频和Android操作系统平台。
一、用途：
1、能快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分。
2、能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量。
3、仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合号，用户也可自己建立合号库。
二、配置:
合金分析仪主机、防尘抗震手提箱、操作系统和分析软件、校准证书、数据传输线、智能充电系统、充电电池等。
三、技术指针和性能参数
1、主机重量≤1.4KG（含电池），便于携带。
2、分析模式：合金专用分析软件Alloy模式。
3、校正方法：分析仪采用基本参数法（fundamental parameters）、康普顿标准化法（Compton Normalization）及经验系数法（empirical calibration）校正。符合美国EPA Method 6200使用规范要求。
4、元素分析含量范围：PPM到99.99％。
5、激发源：大功率微型直板电子X射线管，内置10kV~40kV多段可选择的电压。射线管靶材：Au/Rh靶。
6、探测器：高性能Si-pin探测器。探测器保护：采用工业级双层探测器保护技术，内置金属探测器保护快门，测试时自动打开，测试结束后自动关闭，更好的保护探测器，防止探测器损坏。从外到内所分布的防爆膜、快门装置、碳纤维保护网对脆弱而又昂贵的探测器形成了有力的保护，该快门装置还可有效遮挡X射线,防止意外伤人。
7、电源：两节通用型充电锂离子电池，使用时间不少于10小时。
8、摄像头：仪器配有高清彩色摄像头，能使使用者准确观察拍照分析部位。
9、光斑大小：内置小点准直器，射线管光束≤3mm，可对焊点进行瞄准测试。
10、滤波器：配置6个滤波器，可根据不同的电压自动切换。
11、CPU运算方式：浮点15、一体化设计：仪器无需插件式PDA, 显示器与仪器一体化的液晶触摸屏，防尘防水。
12、数据显示：百分比（%）显示元素含量，元素显示顺序可按能量、浓度值、用户自定义等方式排序,可统计多次测试的平均值,可接台式电脑显示;仪器在测试过程中同步动态显示化学成份。
13、远程维护功能：可通过计算机对仪器实现远程操控，并能进行上传下载、数据和谱图处理、编辑、输出分析报告。
14、操作系统：Android智能操作系统，有利于智能化和扩展性， 16G大容量存储卡，支持WiFi、蓝牙、GPS、RS-232等多种数据采集方式。
15、辐射安全防护性能：具有明显的射线开启警示灯，并具有自动保护装置,窗口前无被测物时，启动的仪器会在2秒后自动停止测试。
16、射线管辐射屏蔽罩：仪器采用铝合金外壳设计，射线管*处于辐射屏蔽功能铝罩内，将辐射降到低。
| 应用模式 | 可分析元素：光束 1 (40 kV) | 光束 2 (10 kV) |
| 矿石模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb | S, K, Ca |
| 土壤模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb | N/A |
| 合金模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb | N/A |
| 贵金属模式 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb | N/A |
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