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AOI YSi-V 混合型光学式外观检查装置

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更新时间:2020-10-13 17:57:28浏览次数:446

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产品简介

AOI YSi-V 混合型光学式外观检查装置1台设备可同时配备2维检查、3维检查、4方向倾斜图像检查功能,检查能力较以往提高2倍以上2D 高速、高分辨率2维检查3D 高度、倾斜面3维检查(选配)4D 4方向斜视相机(选配) 分类: 电子设备, 基板检查装置AOI, YAMAHA AOI AOI YSi-V 混合型光学式外观检查装置 OTKQ3PT2

详细介绍

描述

基本规格

YSi-V
对象基板L610×W560(大) ~ L50×W50(小)(单轨机型)
※支持L750mm超长基板(选配)
相机像素1200万画素500万像素
类型12M TypeHS212M TypeS12M TypeDF5M
分辨率12µm7µm12µm7µm12µm18µm
检查对象刚贴装后的元件状态、固化后的锡膏及元件的状态
电源规格3相 200/208/220/230/240/400/416V ±10% 50/60Hz
供给气源0.4MPa以上、清洁干燥状态
外形尺寸(突起部除外)L1,252mm×W1,498mm×H1,550mm
主体重量约 1,300kg

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