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详细介绍
X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层侧厚及材料分析仪。它特别适合用于测量和分析超薄镀层及进行痕量分析。其配备了高精度、可编程的X/Y轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
1.分析超薄镀层，如：厚度≤0.1um的Au和Pa镀层；
2.印刷线路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黄金成分分析
4.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；
5.分析复杂的多镀层系统；
6.全自动测量，如：用于质量控制领域。
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