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超高速激光变位传感器 [CCD型] HL-C1

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更新时间:2022-01-14 11:56:06浏览次数:443

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产品简介

100s,此产品级别中取样率使用线性图像传感器的变位传感器已实现了行业内最令人称奇的超高速取样,这样就确保了超高速检测旋转,振动和移动的物体

详细介绍

100μ s,此产品级别中取样率

使用线性图像传感器的变位传感器已实现了行业内最令人称奇的超高速取样,这样就确保了超高速检测旋转,振动和移动的物体。(除HL-C1C-GS)

高精度检测变得可能,不受检测物体表面的影响

所有在原先PSD检测法内的不足现在完了。PSD检测从与每个光源连接的光点发射出的全部光量重心的位置信息,而线性图像检测法检测光点本身的峰值。此项进步使得高精度检测成为可能,不管物体的表面是否有金属发线裂缝或是不反射黑橡胶表面。

由于颜色不同而改变的检测数据(白陶瓷/黑橡胶)

解析度1μm,线性±0.1%F.S.

现在具备超精确1μm解析检测能力(HL-C105B-BK,HL-C105FBK,HL-C105B,HL-C105F)和±0.1%F.S.的线性(适用于所有型号)。(HL-C102A±0.05%F.S)

备有FDA标准认证型

备有于在美国使用的FDA标准认证型(级别II)。

操作理论


用于检测V型凹槽
由于传感器检测光点的峰值不受间接反射光的影响,不会产生错误。

由于传感器检测所有光点光量反射光的重心作为位置信息,会回为间接反射光的存在而产生错误。

用途

定位晶片 检测玻璃底层厚度 检测IC针 检测金属轴的偏心率
检测树脂层的存在 检测圆盘滑轮的厚度 检查轮胎形状 检测皮带的间隔空间

备有8种机型适用于不同的测定工件

根据不同的测定物体(塑料、橡胶、金属等扩散反射工件用以及镜面体、透明体等正反射工件用)及检测距离,备有六大类、八个标准机型。实现了广泛的测定范围,可应对各种类型的工件及安装条件。

实现了超高精度的间隙测定 (检测头HL-C102A 控制器HL-C1C-GS)

使用1个检测头即可稳定检测出两片玻璃间仅45μm的间隙!可测定仅0.15mm的玻璃厚度
本产品具有0.3μ m的分辨率和±0.05%F.S.的线性度,性能大大提高。通过采用线性图像传感器和的激光光学系统,仅1个检测头就可以检测出最多4种波形的峰值。

可稳定测定表面粗糙的工件 (检测头 HL-C108B-MK、HL-C105B-MK控制器HL-C1C)

通过本公司的光学系统实现了光点的线性化。可以将金属工件的纹样化表面、切削加工面等粗糙表面上的微小凹凸所造成的影响平均化并使之减轻,从而实现比以往检测头误差小且更为稳定的测定。

量程长又宽 (检测头 HL-C135C-BK10 控制器HL-C1C-WL)

可测定长距离、大范围的变化
测定量程为350mm±200mm,可测定较大的变化。即使工件位置发生变化,也无须对检测头重新设定或改变其位置。
量程广、且可用超小型检测头进行高速、高精度测定
W26.6×H82×D87mm超小型规格,但却拥有高速、高精度的性能,取样率为
100μ s、分辨率为10μm、线性度为±0.1%F.S.。

配备串行输入输出

备有方便的智能监控器(HL-C1AiM)(选购件)

可通过RS-232C接口进行串行输入输出,可以读取和写入设
定以及读取测定值。
装备连续输入/输出
提供RS-232C接口用于连续输入和输出,因此设定可检索并
保存。也可检索检测。
备有方便的智能监控器,可以进行各种测定条件的设定、显示测定值的波形、监控测定值数据及受光量数据。以往只有用示波器才能实现的波形监控以及各种条件设定、功能设定现在可在电脑上简单实现。



可连接2个检测头!降低成本,节省空间
控制器装备了2个单独的输入/输出信道,可连接2个检测头。
无需第二个控制器,无论何时使用2个检测头,此特征都节约了成本和空间。
触摸盘操作,简单,小型
可简单显示多种设定和检测数据。(可选)

防水检测头,保护级别达IP67

检测头具有兼容性,保养简单

HL-C1系列可防止水的滴溅。

注:如果检测头的检测窗上有水,将不能进行正确检测。
大大提高可维护性。正确数据安装到检测头内后实现兼容性。此新型传感器系列不再需要此级别中原先的变位传感器所需的维护次数。可使用相同的控制器,即使检测头被不同型号的代替。同时,在连接2个检测头时不需专用连接端口。

使用2个传感器时可进行计算

小型控制器和前连接节省安装空间

内置计算功能可检测间隔和厚度,不需数字盘控制器,这样
就节约了成本和空间。
超小控制器尺寸仅为W40×H120×D74mm,节省了安装空间。也可进行贴近安装。而且,电缆可直接连接或连接至一可移动终端接线板并且所有连接都是同一方向,因此可进一步节省空间。

加强功能

HL-C1装备了多种有用功能,包括保持功能,计算功能,滤波功能和磁滞设定功能,使得在多种应用中均能方便的使用。

低通/高通滤波功能

警告输出时的模拟输出转换功能

例如,如果一金属物体的表面会产生干扰正确检测的噪音,使用低通滤波功能会降低噪音的影响,这样就能进行稳定的变位检测。 检测过程中,如果由于过量或不足的入射光(警告输出时)而导致无法检测,此功能可允许转换模拟输出至保留以前检测到的数据或至输出一个固定值。如果选择了固定值,两种选择中之一可以选为模拟输出,警告输出过程中:值的输出(电压输出:+10.9V,电流输出:29.5mA)或最小值的输出(电压输出:-10.9V,电流输出:0mA)。
在检测旋转体的接缝和间隔时,如果旋转体偏心、振动或倾斜等位移变化较大,此功能可减小这些波动带来的影响,确保接缝和间隔的稳定检测。

低通/高通滤波功能

HL-C1系列装备4种控制模式。
NORM
(不控制)
此模式实时输出从检测中心距离的变位量。此模式用于普通操作。
P-P 此模式控制和最小检测值之间不同的输出。此模式用于振动或偏心率检测。
PEAK 此模式在检测值控制输出。
VALLEY 此模式在最小检测值控制输出。

低通/高通滤波功能

为了将测定数据导入电脑,可以先暂时将其保存在控制器中,控制器最多可保存48,000份数据。保存在控制器中的所有数据可以过后通过通信或智能监控器HL-C1AiM导入电脑。此功能可用于导入测定数据的确认、测定后所有数据的读取及保存。

订购指南

检测头

种类 形状 检测中心距离 分辨率
(注1)(注2)
型号 组合控制器 组合操作盘 适用标准





宽量程
350mm  
(测定范围±200mm)
10μm HL-C135C-BK10 HL-C1C-WL
HL-C1C-M-WL
HL-C1DP-WL
HL-C1DP-E-WL
JIS/IEC
/FDA
通用
85mm   
(测定范围±20mm)
2μm HL-C108B-BK HL-C1C
HL-C1C-M
HL-C1DP
HL-C1DP-E
JIS/IEC
HL-C108F-BK FDA
粗糙表面
工件用
HL-C108B-MK JIS/IEC
高精度
50mm
(测定范围±5mm)
1μm HL-C105B-BK JIS/IEC
HL-C105F-BK FDA
粗糙表面
工件用
HL-C105B-MK JIS/IEC



通用
50mm
(测定范围±5mm)
2μm HL-C108B JIS/IEC
HL-C108F FDA
高精度

46mm
(测定范围±4mm)
1μm HL-C105B JIS/IEC
HL-C105F FDA
超高精度
间隙测定

25mm
(测定范围±1mm)
0.3μm HL-C102A HL-C1C-GS
HL-C1C-M-GS
HL-C1DP-GS
HL-C1DP-E-GS
JIS/IEC
注:
1) 通过将P-P值换算成距离得到这些值。P-P值表明通过检测中心距离测定值的分布。
2) 采用本公司标准的白陶瓷测定物体(正反射型使用铝蒸汽喷镀表面反射镜)、平均样品数为256时。

控制器

小型操作盘

种类 形状 型号 判断输出
标准型 HL-C1C N通道
开漏
HL-C1C-M 光电继电器
HL-C102A专用 HL-C1C-GS N通道开漏
HL-C1C-M-GS 光电继电器
HL-C135C-BK10
专用
HL-C1C-WL N通道开漏
HL-C1C-M-WL 光电继电器
种类 形状 型号
标准型 日文版 HL-C1DP
英文版 HL-C1DP-E
HL-C1C-GS
(HL-C102A)专用
日文版 HL-C1DP-GS
英文版 HL-C1DP-E-GS
HL-C1C-WL
(HL-C135C-BK10)
专用
日文版 HL-C1DP-WL
英文版 HL-C1DP-E-WL

检测头延长电缆

形状 型号 说明
HL-C1CCJ2 长2米、本体重约160g 两端带连接器的绝缘橡胶电缆
电缆外径:φ7mm
连接器外径:φ 14.7mm
HL-C1CCJ5 长5米、本体重约350g
HL-C1CCJ10 长10米、本体重约700g
HL-C1CCJ20 长20米、本体重约1,400g
HL-C1CCJ30 长30米、本体重约2,000g

智能监控器

形状 型号 说明
HL-C1AiM 可以进行各种测定条件的设定、显示测定
值的波形、监控测定值数据及受光量数据。
带一根松下电工(株)制COM端口连接电缆

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