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高精度二维轮廓度测量仪

参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号CLY-200B

品       牌 海普超精

厂商性质生产商

所  在  地北京市

联系方式:张女士查看联系方式

更新时间:2018-11-16 16:03:55浏览次数:2313次

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产地 国产 类型 二维轮廓仪
CLY-200B高精度二维轮廓度测量仪是北京海普瑞森超精密技术有限公司自主研发的高精度接触式二维轮廓度测量设备。
本产品可用于检测平面、球面、非球面、自由曲面等各种型面的光学零部件,是各类光学元器件检测的*设备。检测口径可达200mm,矢高10mm,测量精度达1μm。机床可选配我公司自主研发的测量软件,借助全自动测量程序,实现全自动的分析与输出显示。

CLY-200B高精度二维轮廓度测量仪主要配置

花岗石底座,滑动横梁,滑动立柱,平移台。

气浮转轴测头(技术)。

测量臂可快速更换,测量力可微调。

 

 CLY-200B高精度二维轮廓度测量仪技术参数

调整台  
平移台直径200mm  
平移台行程100mm

Y轴(滑动立柱)  
行程360mm  
运动直线度5µm

X轴(滑动横梁)  
行程200mm  
直线度2µm/200mm

气浮测头(测量臂长55mm)  
测量精度1µm  
测量矢高(zui大)10mm

 

 CLY-200B使用环境要求

设备使用温度:20±2℃。一天内温度梯度小于3℃。

湿度:<65%。

空气压力:≥0.6MPa。

空气过滤精度:0.01um。除油、除水。

空气流量: ≥0.1m³/min。

 

CLY-200B应用领域

二维轮廓度测量仪是光学元器件检测*的设备。可测量光学元件的轮廓度与光学方程的误差。可逆推光学方程,对未知表面具有逆推系数的分析能力。适合全线光学元器件的测量(包括陡峭、平坦或小矢高等光学元器件)。

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