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XDAL,XDVM菲希尔(FISCHER)膜厚仪

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更新时间:2017-07-11访问次数: 419次

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XDAL,XDVM菲希尔(FISCHER)膜厚仪测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

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XDAL,XDVM菲希尔(FISCHER)膜厚仪,XRF镀层厚度分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品,从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
菲希尔XUL(M)膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.联系人:王生:13316557996   电话:0755-29371655  传真:0755-29371653   地址:宝安中心区宏发中心大厦
 


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